SB2204-3 智能化介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)參數(shù)

點(diǎn)擊次數(shù)：1214 更新更新時間：2019-06-26

SB2204-3 智能化介質(zhì)損耗測試儀是一種新穎的測量介質(zhì)損耗角正切(tgδ)和電容值(Cx)的自動化儀器。可以在工頻高電壓下，現(xiàn)場測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗角正切(tgδ)和電容值(Cx)。與西林電容電橋相比，具有操作簡單、自動測量、讀數(shù)直觀、無需換算、精度高、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。

SB2204-3 智能化介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)指標(biāo)

2. 1 額定工作條件

2. 1.1 環(huán)境溫度:0～40℃(當(dāng)溫度超出20℃±5℃時,每變化10℃儀器基本誤差的改變量不超過基本誤差限的1/2。)

2. 1.2相對濕度:30%～85%

2. 1.3供電電源:電壓:220V±22V,頻率: 50±1Hz

2. 2外形尺寸:l×b×h,mm:440×330×400

2. 3重量:不大于23kg

2. 4電子電路功耗:不大于40VA

2. 5測量范圍:

2. 5.1介質(zhì)損耗(tgδ):0～100％分辨率0.0001

2. 5.2電容量(Cx): *小分辨率0.01pF

2. 5.2.1內(nèi)接方式

試驗電壓試品電容量

5kV 7.5kV 10kV 3pF～40000PF

1.5kV 2.25kV 3k 10pF～0.35μF

0.5kV 0.75kV 1kV 30pF～1.5μF

2. 5.2.2 外接方式

“外接升壓器”方式*高試驗電壓10kV

“外接Cn”方式（外接高壓、外接標(biāo)準(zhǔn)電容器 *高試驗電壓由標(biāo)準(zhǔn)電容器和被試品決定
標(biāo)準(zhǔn)回路*大電流50mA(In=UwCn)

被試回路*大電流2A(Ix=UwCx)

2. 6 基本測量誤差

產(chǎn) 產(chǎn)品在環(huán)境溫度20℃±5℃、相對濕度30%～85%的條件下，應(yīng)符合表1之規(guī)定。

表 1

測量內(nèi)容	tgδ范圍	電容量范圍(Cx)	試品類型	基本誤差
介質(zhì)損耗因數(shù) tgδ	0～0.5	50pF～60000pF	非接地	±(1%讀數(shù)+0.0005)
		50pF～60000pF	接地	±(1%讀數(shù)+0.0010)
		10pF～50pF或 60000pF以上	非接地	±(1%讀數(shù)+0.0010)
		10pF～50pF或 60000pF以上	接地	±(2%讀數(shù)+0.002)
		3pF～10pF	非接地與接地	±(2%讀數(shù)+0.002)
電容量		50pF以上		±(1%讀數(shù)+1pF)
電容量		50pF以下		±(1%讀數(shù)+2pF)

2. 7內(nèi)部升壓器輸出能力

輸出電壓額定輸出電流

5kV 7.5kV 10kV 100mA

1.5kV 2.25kV 3kV 300mA

0.5kV 0.75kV 1kV 500mA

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